可靠性强化试验(tet)的目的是通过施加高于实际的使用的环境应力、工作载荷,快速寻找产品设计的缺陷,以改进设计提高产品固有可靠性的水平,主要用于模块级和单元级电子、机电产品,一般要求在产品研制阶段早期的开展。可靠性强化试验的理论基础是故障的物理学(physics of failure),即把故障或软的主要对象,通过发现、研究和故障达到提高可靠性的目的。高应力在很短的时间内达到长的时间低应力作用的效果,同时又不会受试的样品造成过应力损伤。可靠性强化的试验首先通过施加超过产品可能承受限度的应力,促使潜在故障表现崃,并确定产品的设计、正常操作和破坏的应力限,然后进行失效的分析直至找到故障的根本原因,确定所有故障的模式和相关的产品设计问题;最后进行改进并通过重新检验这种改进措施在失效的环境下的效果。可靠性强化的试验的一般流程。
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