技术参数:
1.温度范围:室温~1350℃
2.量程范围:0～±2000μv
3.dta精度:±0.1μv
4.升温速率:1～80℃/min
5.温度分辨率:0.1℃
6.温度重复性:±0.1℃
7.温度控制:升温：程序控制可根据需要进行参数的调整
降温：风冷程序控制
恒温：程序控制恒温时间任意设定
8.炉体结构:炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
9.气氛控制:内部程序自动切换
10.数据接口:标准usb接口配套数据线和操作软件
11.显示方式:24bit色7寸lcd触摸屏显示
12.参数标准:配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正
13.基线调整:用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
14.工作电源:ac220v50hz
高温差热分析仪特点:
1.仪器主控芯片采用cortex-m3内核arm控制器，运算处理速度更快，温度控制更。
2.采用usb双向通讯，操作更便捷。
3.采用7寸24bit色全彩lcd触摸屏，界面更友好。
4.采用铂铑合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。
在dta试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。 如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。