方案优势：zeta 电位测量 对于液体中的小颗粒，没有令人满意的技术能够测定颗粒的表面电荷。习惯作法是在远离微粒表面，在分。。。。 在测定悬浮颗粒的zeta 电位的三种现有方法中，即：电泳光散射(els)、声学的和电声学，由于其灵敏度、度和通用性，els 到目前为止是很多应用的*选择(ware 和haas，1983，第八章;xu 和smart，1996;xu，wu，和xu，2007)。然而，使用透射光和以较小角度(典型地是8-30°)接收散射的典型els不能用于混浊的样品，因为入射光不能穿透样品。 不像粒度或分子量，zeta 电位是一种特性，不仅涉及微粒，而且涉及微粒的环境，例如：ph 值、离子强度，甚至悬浮液中离子的类型。因此，在很多情况下，即使在稀释之后测量了悬浮颗粒的zeta 电位以产生出高分辨率和高度的结果，这些结果仍然与原始环境中的真值有很大的差别，并且可能具有很小的实际的实用性或者甚至会误导用户。 测量一个浓缩悬浮液中的zeta 电位分布是一项技术挑战。只要固体浓度已知，声学法便只能产生具有低灵敏度的平均值。不能采用在粒度测量中使用的反向散射方法，这是由于在大散射角时布朗运动会干扰定向的电泳运动。例如：对于一个zeta 电位为60 毫伏的250纳米的颗粒，当它遭受到一个30 伏的电场时，电泳运动将产生一个55 赫兹的多普勒频移，散射角为10°，该颗粒的布朗运动将造成一个3.5 赫兹的峰加宽。如果在散射角为160°时进行测量，则多普勒频移和峰加宽将分别为108 赫兹和430 赫兹，这使得测定zeta 电位不可能了。