英文名称：absolute intensity calibration standard for small-angle x-ray scattering
品牌：nist
产品货号：srm 3600
规格：coupon
srm 3600 小角度x射线散射强度校准在用于小角度 x 射线散射 (saxs) 仪器的散射强度校准。 saxs 测量表征了异质材料系统的微观结构和纳米结构：特别是微米级和纳米级特征的尺寸分布，以及散射强度校准，它们的体积分数或数量浓度，以及它们的表面积 [1]。srm 3600 的一个单元由一个大约尺寸为 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳试样组成。
储存和使用说明
储存：
srm 3600 小角度x射线散射强度校准应储存在提供的塑料膜盒内，环境干燥，远离过多的水分或热量（最高 60 °c）。 srm 3600 玻璃碳材料已被证明可在较长时间内保持稳定，用于校准目的，在这些储存条件下具有无限的保质期 [5]。
用途：
要使用 srm 3600 使用带有二维 (2d) 位置敏感检测器 (psd) 的传统 saxs 仪器为“未知”样品提供 saxs 强度校准，必须遵循几个步骤。使用根据需要使用衰减器来保护 2d psd 免受入射 x 射线束的影响（空白、样品和标准品的衰减相同），测量样品 ts 和标准品 tstd 相对于入射光束（空白) 在 q = 0 处测量的强度，其中 q = (4π/λ)sinθ，λ 是 x 射线波长，θ 是一半散射角 [1]。还可以从这些传输测量中确定 2d psd 上的入射光束位置。然后，用一个光束挡板保护 2d psd 免受入射 x 射线束的影响，在相同条件下对“未知”样品、空白（不存在样品）和电子背景（x 射线）进行 saxs 测量光束关闭）和 srm 3600 标准试样。将每个 2d psd 像素的所有测量强度归一化为入射光束强度，然后减去每个像素的电子背景。对于样品和标准品，分别减去每个 psd 像素的空白散射，分别由因子 ts 或 tstd 衰减。然后相对于探测器上的入射光束位置（q = 0 的位置）对 2d psd 数据进行循环平均，并除以各自的透射率 ts 或 tstd 以及样品或标准厚度 τs 或 τstd。请注意，对于srm 3600 小角度x射线散射强度校准，应使用 τstd = 1.055 mm。
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