短期残影测量仪 产品详情
短期残影测量仪di系列短期残影测量仪di系列是弗士达开发的用于平板显示器(fpd)自动光学检测的仪器。采用制冷型图像芯片来 获得高质量的拍摄画质，同时集成了光谱仪光路以提升亮度色度的准确性。不同型号的分辨率从1160万像素到 6100万像素，满足用户的不同测试需求。产品应用产品主要应用于微型显示器、手机、显示器、大尺寸电视和背光模组的测试。测量项目：亮度色度均匀性、 画质缺陷检测(点/线缺陷、表面缺陷)、mura和漏光检测、残影检测。硬件特点：• 高分辨率图像传感器• 高灵敏度• 电子镜头控制• 光谱仪集成• 多种选择软件模块• 亮度色度分析• 光谱分析测量• 缺陷检测• mura和漏光检测• 残影测试