xp分析天平 产品详情
产品特性
· 采用高精度高分辨率传感器
· 内置rs232 通讯接口和第二接口选件插槽
· 符合gxp 规范的称量结果输出
· 丰富内置称量应用程序：基称称量、统计功能、密度测定、差重称量等
· e-load ii 软件，实现天平软件的即时更新
超越系列xs天平
· 触摸屏(touchscreen)
· 采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求
· 天平校验功能(balancecheck)，自动提示用户使用外置砝码校正/ 校准天平，确保称量结果始终准确
· 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
· 完全可拆卸，清洗的玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
· 丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
可读性 型号 大称量值 校正技术
0.01mg xp205 220g profact
0.01mg/0.1mg xp105dr 31g/120g profact
xp205dr 81g/220g profact
0.1mg xp204 220g profact
xp504 520g profact
0.1mg/1mg xp504dr 101g/520g profact
dr=变量程；du=双量程