langer emv-technik为德国著名近场探棒(near field probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(near field probe)，再加上高感度及高办识率；为现在修改(debug)产品，提供一个很好的解决工具。
修改测试可用於产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。
修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。
所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(near field probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定辐射源的位置和辐射强度，从而找出辐射大的零件或电路。
rf 2∶
＊h-field probe rf-r 400 - 1
＊h-field probe rf-r 50 - 1
＊h-field probe rf-u 5 - 2
＊e-field probe rf-b 3 - 2
＊cable smb-bnc
＊ 175 x 140 x 32 mm
 
 
 

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