日本精工电子有限公司（Seiko Instruments Inc.简称SII），于1978年领先于其他厂商，研究开发出日本第一台荧光X射线镀层厚度测量仪SFT155。经过三十多年的努力，现在的荧光X射线镀层测量仪能够准确地测量微小面积的镀层厚度。现已成为全世界电子零部件、印刷电路板、汽车零部件等相关厂商提供了6000台以上的测量仪，深受用户的信赖与好评。从此“SFT”几乎成为镀层厚度测量仪的代名词。