UX-300 分析原理：能量色散X射线荧光分析法 分析元素：Na ～U任意元素 检出下限(Cd/Pd)：Cd/Pb/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 样品形状：任意大小，任意不规则形状 样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体 X射线管：靶材/Mo 管电压/5～50 kV 管电流/最大1～1000 μA 照射直径：2、5、8mm自动转换 探测器：Si(PIN)半导体高分辨率探测器 滤光片：八种新型滤光片自动选择 样品定位：微动载物平台（选配） 样品观察：30倍彩色CCD摄像机 微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配） 软件 定量分析：α系数法 WINDOWS XP 数据处理：主机/戴尔／方正PC机/内存/256 MB 以上/硬盘/40 GB 以上　系统：Windows XP正版 工作环境：温度 10～35 ℃ 湿度 30～70%R H 電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz 功率：1.1kW 重量：40Kg 外形尺寸：610(W)×750(D)×500(H)mm