集成电路高温动态老化系统
产品详情
符合标准：gjb548（等同mil-std-883）、gjb 597（等同mil-m-38510）
适用范围：
适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和soc电路、微处理器、存储器等微电子电路进行高温动态老化试验。
工作特性:
● 一板一区工作方式，最多可同时进行16种规格、批次的器件进行筛选试验，适应多品种、小批量。
● 超温报警装置，确保温度条件安全施加。
● 可检测各组电源工作情况及试验箱温度并描绘其与时间相关的曲线。
● 软件全编辑信号产生方式，可满足包括存储器在内的多种集成电路器件的动态老化要求。
● 集成的用户软件包基于windows平台开发，功能完备并有良好的可扩展性。
●　主从式rs485全双工高速串行通讯接口，远距离通讯能力强，数据传输安全可靠。
●　试验容量和系统分区可根据实际情况另行配置。
●　试验箱可选择两个小型试验箱，每个试验箱装8块老化板，可同时进行两个温度条件的试验。
●　可提供专用调式台，具备独立的dut试运行接口和维修接口，方便试验前或试验中对dut和老化板进行试验状态检查。
电子电路进行高温动态老化试验。
 技术性能：
型  号
elea-v
eleh-v
系统分区
16区（标准）
试验容量
208×16（以dip14计）
/
试验温度
最高150℃
数字信号路数
每板64路
每板8路
数字信号
每路可独立编辑信号的数据、地址、控制、三态特性；信号最高频率：2mhz；最小编程分辨率100ns，最小编程步长100ns；编程深度256k；信号幅度程控范围：2.0v～18.0v；最大寻址深度：64g；数字信号可采用直接输入、字符输入、程序输入三种方法编程；
模拟信号
多路多种类模拟信号发生单元及驱动电路，最高频率可达1mhz;最大驱动电流：1a;信号幅度vpp20v；直流偏移量：0～1/2vpp；
试验状态监测
64路信号示波监测接口；宽范围数字、模拟信号频率自动测试、记录；二级电源电压监测；
二级电源电流、信号峰值监测（可选）
通讯速率
500k
二级电源
可程控vcc、vmux、vee；
输出能力：2v～18v/10a；
具备灌电流能力；
2组正电源：vcc1（+2v~+36v）、vcc2（+2v~+36v）；
2组负电源：vee1（-2v~-36v）、vee2（-2v~-36v）；电流为最大10a；
具有过流、过压及过热保护功能；
电源要求
输入：ac380v,50hz,三相（220v单相可选）；
整机功率：8kw以下
整机功率：12kw以下
重  量
约500kg
外形尺寸   （宽×高×深）
1313mm×1950mm×1350mm

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福州市乃胜检测仪器试验设备有限公司
黄其胜
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平湖镇