很多人用晶体与一个cmos非门和两个20~30p电容（有时可能需要在晶体两端并联一个10~20m欧姆电阻）组成基本晶体振荡电路。只要使用频率计测量到频率就可认为晶体可以工作。晶体的参数主要有串联等效电感、电阻和电容，需要专门仪器测量，要求不高的一般应用可以不必考虑。
但是在实际应用中,这种方法实在是没有任何意义,对于一个工厂的品质部门来料检测,或生产线上实际应用,那种方法是行不通的.我司生产的晶振测试仪,是专门针对石英晶振,陶瓷晶振,无源晶振,贴片晶振的一款检测仪器.现介绍给大家.
cx-118a晶振测试仪产品简介：
一、cx-118a是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等测量。它测量高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、ppm测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）f0、分档值pr1～pr8 (ppm)、上限频率fu、下限频率fl可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。
具有ppm测量功能，预置频率f0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业，测试结果显示直观。
主要功能：频率测量，ppm测量，周期测量，数据累计，功能设定
二、主要技术指标：
频率测量范围：0.1hz—100mhz
频率测量灵敏度：30mv
ppm测量：3khz—100mhz
ppm测量：≤1 ppm（1×10-6）
（可扩展0.1ppm，0.01 ppm）
中心频率：0 hz—100 mhz任意设定
误差设置范围设定：±1—±999 ppm任意设定。
闸门设置：四档，0.01s、0.1s、1s三档固定，
1档闸门1ms—10s可设，
每1ms为一阶梯任意设定。
周期测量范围：100 ms—10 s
晶振稳定性：5×10-7 /日