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离线电容式测厚仪在薄膜行业的运用

2025/12/14 23:31:59发布16次查看
离线电容式测厚仪在薄膜行业的运用
模型tof-c2 * tof-c的后继机型
测量方法非接触式/电容式
测量对象薄膜、粘性保护膜、易沾灰尘的薄膜
测量原理电容式
产品特点高测量分辨率
由于它是非接触式,因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。
即使表面条件粗糙,也可以进行测量。
基重测量
操作简单(具有自动介电常数设置功能)
产品规格测量厚度~ 500 微米
测量长度10 至 10000 毫米
测量间距1 毫米 ~
小显示值0.01微米
电源电压ac100v 50 / 60hz
工作温度限制5-40℃(测量时温度变化1℃以内)
湿度35-80%(无冷凝)
关键词:测厚仪
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