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赛多利斯 Entris II 基础型实验室天平技术参数

2025/11/30 7:07:13发布19次查看
赛多利斯 entris ii 基础型实验室天平技术参数:每一款赛多利斯天平都具有高质量。无论称量什么样品,entris® ii天平始终是您正确的选择。颇具竞争力的性价比,isocal功能、led触摸屏技术和12个内置应用程序,使该天平从同类产品中脱颖而出。凭借150年德国工匠精神的传承和专.业技术累积,我们拥有40种不同型号的产品供您选择,让您轻松找到适合您特定称量需求的entris® ii天平
赛多利斯 entris ii 基础型实验室天平技术参数采用德国设计,符合质量标准
•精.准称量,始终如一–赛多利斯超级单体传感器,稳定可靠
•同类产品的快速稳定时间–搭载先进称量传感器
•良好的重复性–配置矩形称重盘
•过载保护–牢固耐用的设计
•可靠性保证–配备自检“@start”功能
易于清洗,操作效率高,经久耐用
•耐化学腐蚀性–零件由耐磨聚对苯二甲酸丁二酯(pbt)、不锈钢和玻璃制成
•防止交叉污染–采用一擦即净的设计和易于拆卸的零件
实用的防风罩
•更大限度地减少静电引起的称量误差—采用镀膜玻璃
技术参数:
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