1.当密封表面发生粘接性破坏(剥离)时,报告该测得的粘接强度值。试样粘接处的内聚性(cohesive)破坏、分层(delamination)或别处受到破坏,都表明是基材(substrate)破坏,而不是密封界面破坏,都是限制包装强度的因素。发生这些情况时,可报告为密封强度“不低于”所测强度。
2.当对材料试验时,所测力值的一部分可能是由弯曲部分形成的,而不只是密封强度。对此设想了多种不同的握持样品的方案,使其与拉伸方向呈不同的角度﹐从而控制弯曲力。由于不同的支持方案会产生不同的试验结果,建议在一个试验系列中持续使用一个技术。
3.材料伸长对剥离速度的影响
试验过程中材料的伸长是另一种干扰。如果试样在夹具移动过程中被拉长,实际剥离速度就会比用夹具移动的速度所计算的剥离速度低。在这种情况下,伸长与剥离的比值是未知的,也可能在试验过程中是变化的,致使剥离速度不再受机器控制。剥离速度是已知对测量的密封强度有影响的因素。
4.剥离速度与夹具移动速度
在剥离试验中,只要夹持试样的夹具移动能转变成密封的剥离,则夹具每移动x cm,引起破坏线向密封内发展0.5x cm。因此,理想状态下的剥离速度是夹具移动速度的1/2。这一算法通常都被忽视了,这导致剥离速度不能与夹具分离速度相对应。
