本文以广州供电分公司变电管理所6年的微机成套保护定期检验为例，统计和分析检验中所发现的缺陷，研究改进微机保护检验等工作的措施。
1定期检验中发现缺陷的年度统计和分析
1996年，广州供电分公司变电管理所微机成套保护的应用初具规模，以后逐年大幅增长。到2001年微机成套保护占绝大多数，因此年保护定期检验的次数也随之大幅增加。表1是1996-2001年6年间微机成套保护定期检验发现缺陷的统计表（表中，n为检验总次数；n1，n'1，为检验未发现缺陷的次数及占检验总次数的百分比；n2，n'2，为检验发现一般缺陷的次数及占检验总次数的百分比，“一般缺陷”为不影响保护动作行为的缺陷；n3，n'3为检验发现严重缺陷的次数及占检验总次数的百分比，“严重缺陷”为影响保护动作行为的缺陷。
从表1可以看到，约90％微机成套保护定期检验未发现缺陷，与传统的继电保护设备相比，进步很大。这说明微机保护的可靠性高、缺陷率低，也说明微机保护装置所发生的缺陷无需等到定期检验时就已经发现并处理了。
2按发现缺陷的部位分类统计及分析
表2为1996-2001年定期检验中发现的缺陷及按缺陷部位的分类统计表（表中，n4,n'4为总缺陷数及所占百分比，其余定义同表1）。
根据以上分类统计，可得出以下几点：
a.在微机保护装置和辅助装置上发现的缺陷较少，而配套装置和回路上发现的缺陷较多；
b.微机保护主机部分和开关量输入/输出部分发现的缺陷较少，而其他外围装置和回路发现的缺陷较多；
c.严重的缺陷大多发生在配套装置和回路上。
3按发现缺陷的原因分类统计和分析
表3为1996-2001年定期检验发现缺陷，按缺陷原因的分类统计表（表中n2—n'4定义同表2）。
根据表3，可得出以下几点：
a.定期检验中发现缺陷的原因，设备运行缺陷和基建缺陷都占有相当比例；
b.电磁器件和机械器件缺陷是设备运行缺陷的主要原因，特别是严重缺陷。
4对保护设备运行中发生缺陷的分析
保护设备发生的缺陷可以分为显性缺陷和隐性缺陷两类。显性缺陷是指缺陷发生或存在时，保护设备通过指示灯、显示屏、音响报警或打印机等表现出或简单分析出；而隐性缺陷发生或存在时，保护设备没有任何信息表现，很难发觉或分析出。基建投产的缺陷一般属于隐性缺陷，而运行中设备发生的缺陷，既有显性缺陷，又有隐性缺陷。
保护设备定期检验的目的主要是发现并处理隐性缺陷，对保护设备的显性缺陷则在运行期间临时处理解决，无需等待定期检验。因此前述的缺陷统计和分析主要是微机成套保护设备隐性缺陷的统计和分析，并不包含显性缺陷。
由于微机保护装置具有很强的自检自诊断能力，其内部发生的缺陷大多能表现出来，即显性缺陷比例多，隐性缺陷比例少，因此微机保护装置本身定期检验时发现的问题很少；而其配套装置和回路由于其自检自诊断能力差，其内部发生的缺陷大多不能表现出来，隐性缺陷多，显性缺陷少，因此定期检验时发现的缺陷也较多。
当然显性缺陷和隐性缺陷不是的，在一些条件或人为努力下是可以相互转化的。当装置或回路设计合理时，所发生的缺陷大多为显性缺陷，隐性缺陷少；当继电保护人员技术分析水平较高或掌握的现象和数据较多时，隐性缺陷可以被分析转变为显性缺陷；当保护设备状态检验研究越深入，监测和分析手段越强时，隐性缺陷将进一步转变为显性缺陷。
5当前微机保护检验工作存在的问题
目前微机保护的检验，是根据1988年1月原电力部颁布的《继电保护及电网安全自动装置检验条例》和有关微机保护装置检验规程进行的，包括新安装设备投产前的验收检验、运行期间的定期检验和补充检验等。由于各种微机保护装置发展较快，而其检验规程出台滞后或尚未推出，使现场装置检验难以有章可循。即使是已出台的检验规程，也存在过于理论化、缺乏微机保护装置的特点，缺乏重针对性和重点不突出，可操作性不强。因此现场微机保护装置检验通常存在下面几个问题。
a.新安装设备投产往往比较仓促，留给验收检验的时间较短，设备资料和图纸不齐全，特别是进口保护设备。继电保护人员未能在验收检验前熟悉设备和设计，未能制定完善的验收检验方案。有些观点认为微机保护很可靠，以致采用抽检或部检等验收检验方法，或采用所谓的“交钥匙”接收模式。这使新安装设备得不到全面检验，大量缺陷成为运行隐患。缺陷统计表3已显示基建缺陷的数量及严重性。
b.微机保护的定期检验缺乏重点或重点错位，有时甚至以微机保护核心装置的检验等同于微机成套保护装置的检验。在检验微机保护核心装置时，习惯对保护定值和模拟故障作逐项逐条的试验（这对微机保护装置是不必要的），耗费了大量时间及精力，而对核心装置的输入/输出接口回路和逻辑（如电源、输入逻辑回路、输出继电器等）不作逐项检验。常有微机核心装置正常但整套保护仍动作不正常的情况，原因如外部3uo回路接错，或某个输入光耦回路异常，或输出继电器有缺陷等。
c.对配套装置、出口继电器和二次回路等方面状态的检验，不做全做细，甚至不做专门检验，只做传动试验。这些配套装置和回路大部分属电磁或机械器件，运行环境和工况比较差，基本没有缺陷自诊断报警功能，因此更易发生缺陷，且发生缺陷后不易发现。缺陷统计表2和表3都已显示，配套装置和回路上发现的缺陷比较多，且大多是严重缺陷；电磁器件和机械器件缺陷是设备运行缺陷的主要原因，特别是严重缺陷。
6对微机保护检验的基本观点
a.由于微机保护装置和回路可靠性高，缺陷自检功能较强，微机保护定期检验时，比传统型保护发现的缺陷率低，绝大多数微机保护均能保持正常运行。
b.微机保护在定期检验中所发现的缺陷大多在其配套装置和回路上，而发生在其核心装置上的较少。对微机保护的检验重点应放在其配套装置和回路上；在做保护部分检验时，其输入/输出回路（含断路器）的传动试验是zui重要的。
c.基建的缺陷（特别是严重缺陷）占保护定期检验所发现缺陷的比例较大，因此在强化设备投产前验收的同时，要特别重视投产后*年的全面检验，检验发现缺陷的比例zui高、效果。
d.新设备投产前的验收，要有充分的时间和资料保证运行部门的继电保护人员熟悉和验收设备。运行部门的继电保护人员应对保护设备进行全面的（逐个装置、逐个回路、逐个逻辑）验收，保证基建缺陷尽可能地少。
e.改进微机保护定期检验的内容和做法，使缺陷（特别是隐性缺陷）多发装置和回路得到重点和充分的检验。简化微机核心装置功能和定值的检验，强化配套装置和回路的检验，重视装置接口和接点的检验，以提高检验工作效率，收到良好的效果。
f.加强对微机保护运行的状态监视和状态判断，及时从微机保护的指示信息、打印信息、报警信息等各方面综合评估判断保护的状态，发现问题及时处理，使大部分缺陷无需等到定期检验时发现和处理。
g.微机保护在经过投产前的全面验收和投产后的全面检验后，其隐性缺陷大为减少，以后按原规程规定的每3-5年的全面检验所发现的缺陷很少，因此本文认为在实施严格、全面的验收和检验的前提下，通过加强运行中的状态监视和状态检修，按新颁规定适当延长微机保护的检验周期是合理的，即每1-2年进行一次部分检验或传动试验；每6年进行一次全面检验。