透射电镜双倾光热原位系统通过mems芯片和光纤引入的光源在原位样品台内构建热、光复合多场自动控制及反馈测量系统，结合eds、eels、saed、hrtem、stem等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、光场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。透射电镜双倾光热原位系统具有优异的热学性能：
1.高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。
2.两电极的超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更准确。
3.采用高稳定性贵金属加热丝(非陶瓷材料)，既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.01℃。
4.采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01℃。
5.多级复合加热mems芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。
6.加热丝外部由氮化硅包覆，不与样品发生反应，确保实验的准确性。