dbc-223型半导体器件静态特性综试验台的测试方法符合1.该测试系统是一套静态综合的测试系统，综合测试参数多，技术水平较高。
3.该系统是一套静态参数的集成测试系统，因此该设备的结构设计较为复杂
5.该系统采用计算机记录测试，并可将测试转化为6.该测试系统是半导体器件检验测试中不可缺少的专用测试设备。
1)门极触发参数测试单元
3)通态电压参数测试
5)计算机控制系统
1.阻断电压（drmv200—6000v，分辨率 分两档：10v，准确度±3%±10v；
10v，准确度±3%±10v；
(i\i)：
1-99ma
计算机设定测试时断态/反向峰值电流的保护电流的数值。
50h5.测试方式：手动测试方式；