该仪器于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
u 主要性能指标
※ 波长范围及峰值波长（任选一种）：
（1） uv－365探头：λ：320～400nm；λp＝365nm
（2） uv－420探头：λ：375～475nm；λp＝420nm
※ 辐照度测量范围： 0.1～1.999×105μw/cm2
※ 紫外带外区杂光： uv365：小于0.02％ uv420：小于0.02％
※ 余弦特性：符合二级光照度标准
※ 准确度：±10％（相对于nim标准）
※ 相应时间：1秒
※ 使用环境：温度20±20℃；湿度＜85％
※ 尺寸和重量：180×80×36mm3；0.2kg
※ 电源：9v积层电池（6f22型）一只