1、磁卡厚度检测
据磁卡国际标准iso 7810对磁卡物理性能的规定，磁卡的厚度应为 0.76±0.08mm。因此，磁卡的厚度检测是对磁卡厚度进行检测控制一方面遵循国际标准，另一方面可以节约原料投入，增加产值。以labthink兰光c640测厚仪为例，该款测厚仪采用机械面接触式测量原理，分辨率高达0.1微米。另外仪器的操作非常简单，由于附带了自动进样功能，只需试验前设置测量点数、进样步距、测试时间等参数，点击试验开始即可自动进样测量。labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。
2、磁卡覆膜剥离性检测
在磁卡使用中，由于磁卡会受到多种外界因素的作用导致表面覆膜与基材分离。虽然不影响磁卡的使用，但会破坏消费者的触感，降低使用感受。为了延长覆膜与基材的紧密结合状态，延缓分离时间，在生产过程中，需要对磁卡样品进行抽样检测，事先测试覆膜与基材的剥离强度，即覆膜在多大的作用力下会与基材分离，从而改进覆膜工艺。labthink兰光bld-200n电子剥离试验机可根据客户的检测需求选择 30n/50n/100n/200n四种不同负荷范围的仪器，精度为1级，最小可检测拉力为0.06n。该仪器采用微电脑进行控制，具备剥离和拉伸两大功能。具体检测方法十分简单：首先对磁卡按要求取样并剥离部分覆膜和基材，将两者牢牢固定在夹具上。其次，根据标准规定或实验要求设置测试参数。最后点击开始按钮开始实验。整个试验过程由系统控制自动完成，通过内置微型打印机打印试验结果。
以上几项磁卡的检测指标在实际生产中，对调整生产工艺，提高产品质量至关重要。通过相应的试验仪器，来控制与掌握比较合理的各种技术参数，可良好的用于磁卡及相关材料的生产，控制质量节约成本。labthink兰光，致力于通过包装检测技术提升和检测仪器研发帮助客户应对包装难题，助力包装相关产业的品质安全。了解关于更多相关信息，您可以登陆济南兰光公司网站查看具体信息或致电咨询。labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。