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用于干式检测芯片反应分布测量装置OD4-8的特点

2025/6/10 5:55:26发布12次查看
用于干式检测芯片反应分布测量装置od4-8的特点
评估 可以测量电池中的反应分布特征
可以测量电池中的反应分布
规范探测器1392×1040(像素)ccd
像素大小20×20微米
线性保证高达吸光度4
测量时间测量时间点 1000
最小测量时间间隔10(秒)
波长405、450、570、630、810(纳米)
温度控制37°c±0.1°c
由于它是斩波器系统,因此可以消除外部光线和噪音。
光密度是根据样品相对于参考的透射率计算的。
可以任意间隔进行连续测量。
选项多点测量 使用偏振棱镜进行极化率测量 定波长下的透射率测量
od4-苹果手机多波长图像测量系统它是一种可以通过移动终端测量的系统。
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