位于美国马塞诸塞州格罗斯特市的巴顿菲尔·格罗斯特工程公司开发出创新的阻隔薄膜厚度扫描仪，它精度高，能迅速将数据传送给工艺控制器。名为矩形框架式膜厚扫描仪，它采用一个固定的b探测器，在任何温度都能无接触式地对多层薄膜进行测量，并对于所有的阻隔性树脂均有效。同时它还能通过该公司的extroltm专利工艺控制系统，提供实时的控制。
矩形框架式膜厚扫描仪采用中继方式，和其它测厚仪相比，数据传输控制速度显著提高。
矩形框架式膜厚扫描仪安装在旋转往复式牵引装置和夹辊间，测量夹泡后的平折膜厚。扫描仪的b探测器安装在矩形的框架中，薄膜通过框架后分离。探测器能精确地扫描薄膜的两面，并在牵引装置只是旋转90度后传输数据。
据巴顿菲尔·格罗斯特公司的吹膜产品经理carl johnson先生介绍，大多数传统的固定测厚的感应器需要牵引装置完全旋转360度后才能计算薄膜厚度和传输数据，这个过程可能需花20分钟的时间。所以矩形框架式膜厚扫描仪不仅精确，而且采用中继方式传输工艺控制数据明显要比其它感应器迅速，仅需5到6分钟，刚好就在牵引装置完成第一次旋转之前。
扫描仪采用了复杂的信号处理算法，能使巴顿菲尔独有的extrol控制系统将薄膜两侧的厚度数据精确地分开，确定出厚度精度。extrol控制器以所获数据为基础，调整工艺参数，实现或保持一定的薄膜厚度，当使用重力测定和自动数据控制时，就能显著地减少膜厚的波动。
矩形框架式膜厚扫描仪通常被设计用来膜厚测量，但也可附带不同的感应器，例如红外线或原子射线，以提供有关阻隔膜层厚度的数据，并进行分离。扫描仪的非接触式操作使它极为适合用于对薄膜表面质量敏感的场合之中。
矩形框架式膜厚扫描仪消除了采用电容式料泡测厚仪时电介性波动的问题。与其它探测器相比，该探测器具有信噪比更强、时间常数更快和寿命更长的其它优势，它们都能造就更精确和更稳定的测量。
carl johnson先生介绍，矩形框架式膜厚扫描仪在价格上和往复式电容测厚仪相比具有竞争力。对于巴顿菲尔·格罗斯特公司新吹膜生产线，矩形框架式膜厚扫描仪为可选装置，同时它也可对巴顿菲尔配有extrol 6032工艺控制系统的生产线进行改造。
( 巴顿菲尔·格罗斯特工程有限公司 )
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