用于测试材料特性
例如利用纵波横波声速计算弹性模量。
g…n，g…kb，g…k型
各种频率，晶片尺寸可选的冲击波直探头，耐磨损接触面，lemo00插头。
g…k型为
microdot接头。适合测量纵波声速。
sm-p…型
各种频率，晶片尺寸可选的高分辨率直探头，microdot接头，有一个磁环可将探头固定在磁性材料上。尤其适合测量螺栓应力。
k…ny，k…ky型
高分辨率横波直探头。多种频率和晶片尺寸可选。microdot接头。适合测量横波声速，适用于精密测厚仪。
注释：
如有需要，横波和纵波晶片可以同时封装在一个外壳里。例 如 可 以 用 来 确 定 硬 化 层 的 厚 度 和纯度。
z20m型
20mhz，窄脉冲水浸探头，晶片尺寸5mm，1.5m探头线，lemo1接头。适合用超声背散射测量硬化层深度。
注释：
硬化层和未硬化层之间的结构突变是测量的先决条件。参见sd284。
z10m型
10mhz窄脉冲水浸探头，晶片尺寸5mm，1.5m探头线，lemo1接头。适用于纯度测量。