*关闭电源，将hi-2623微波炉探头连接到hi-1710a前面的探头连接器。插入连
接器，使定位螺钉朝上。
*将hi-1710a连接到交流电源。
*打开hi-1710a正面的电源开关。屏幕将显示固件版本和其他ets-lindgren信息。
在此期间执行一系列自检；自检完成后，探头准备归零。
*将探头置于零场环境中，然后按hi-1710a正面的zero。归零完成后，hi-1710a准
备就绪。
使用hi-1710a
检查探头间隔锥是否损坏、变色或污染。锥体磨损或损坏或可能嵌入锥体中的金属
颗粒污染可能会影响精度。如有必要，更换锥体。有关部件号，请参阅第6页的更
换部件和可选部件。
让hi-1710a预热至少10分钟。
*选择测试需要的操作设置。对于正常测试或起点，请使用默认条件。要选择设置，请
参阅第15页的菜单选项、设置和命令集。
*开始测试前将探头调零。当烤箱在合适的负载下运行时，在烤箱表面上移动探头，保
持探头轴线（手柄）垂直于潜在泄漏区域。
*握住探头的红色手柄以避免潜在干扰。使身体的其他部位和探头线远离探头头部附近。
模拟条形图显示可用于确定最高泄漏区域。在正常模式（非峰值保持）下，条形图显示
将跟踪显示的数字值并响应过滤后的rf信号。当仪器在峰值保持模式下操作时，条形图
显示不会被过滤并且对rf强度的变化反应非常快。扫描时可以使用峰值保持模式来捕获
最高泄漏区域，而条形图将连续显示泄漏的瞬时变化。
将过滤器选择更改为fast将减少系统的响应时间。这将更有效地显示由于模式搅拌
器或其他调制设备导致的rf水平快速变化的影响。在slow和fast滤波器位置，响
应时间满足rf测量仪器响应时间的cdrh要求，而slow响应特性可平滑rf变化。
测试完成并记录rf读数后，在下一次测试之前再次将hi-1710a调零。零点可能会
在很长一段时间内逐渐漂移。开始测试前重新归零。