样品制备方法：
一、样品要求：
1.粉末样品基本要求
(1)单颗粉末尺寸应小于1μm；
(2)无磁性；
(3)以无机成分为主，否则会造成电镜严重的污染，高压跳掉，甚至击坏高压枪；
2.块状样品基本要求：
(1)需要电解减薄或离子减薄，获得几十纳米的薄区才能观察；
(2)如晶粒尺寸小于1μm，也可用破碎等机械方法制成粉末来观察；
(3)无磁性；
(4)块状样品制备复杂、耗时长而且工序多，需要由专业人员指导制备；样品制备的好坏直接影响到后面电镜的观察和分析。
二、送样品前的准备工作
1.明确制备和观察的目的
2.样品通过x-ray粉末衍射(xrd)测试并确定结构后，再决定是否做hrtem；即可以节省时间，又能在xrd的基础上获得更多的微观结构信息。
三、粉末样品的制备
1.选择高质量的微栅网(直径3mm)，这是关系到能否拍摄出高分辨率照片的首步。
2.用镊子小心取出微栅网，将膜面朝上(在灯光下观察显示有光泽的面，即膜面)，轻轻平放在白色滤纸上；
3.取适量的粉末和乙醇分别加入小烧杯，进行超声振荡10~30min，过3~5 min后，用玻璃毛细管吸取粉末和乙醇的均匀混合液，然后滴2~3滴该混合液体到微栅网上(如粉末是黑色，则当微栅网周围的白色滤纸表面变得微黑，此时便适中。滴得太多，则粉末分散不开，不利于观察，同时粉末掉入电镜的几率大增，严重影响电镜的使用寿命；滴得太少，则对电镜观察不利，难以找到实验所要求粉末颗粒。)
4.等15 min以上以便乙醇尽量挥发完毕；否则将影响电镜的真空。
四、块状样品制备
1.电解减薄方法
用于金属和合金试样的制备。(1)块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片；(2)用金刚砂纸机械研磨到约120~150μm厚；(3)抛光研磨到约100μm厚；(4)冲成ф3mm 的圆片；(5)选择合适的电解液和双喷电解仪的工作条件，将ф3mm 的圆片中心减薄出小孔；(6)迅速取出减薄试样放入无水乙醇中漂洗干净。
注意事项：
(1)电解减薄所用的电解液有很强的腐蚀性，需要注意人员安全，及对设备的清洗；
(2)电解减薄完的试样需要轻取、轻拿、轻放和轻装，否则容易破碎，导致前功尽弃；
2. 离子减薄方法
用于陶瓷、半导体、以及多层膜截面等材料试样的制备。块状样制备(1)块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片；(2)均匀薄片用石蜡粘贴于超声波切割机样品座上的载玻片上；(3)用超声波切割机冲成ф3mm 的圆片；(4)用金刚砂纸机械研磨到约100μm厚；(5)用磨坑仪在圆片中央部位磨成一个凹坑，凹坑深度约50~70μm，凹坑目的主要是为了减少后序离子减薄过程时间，以提高终减薄效率；(6)将洁净的、已凹坑的ф3mm 圆片小心放入离子减薄仪中，根据试样材料的特性，选择合适的离子减薄参数进行减薄；通常，一般陶瓷样品离子减薄时间需2~3天；整个过程约5天。