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美国THORLABS测量扩展装置M2原理介绍

2024/5/3 5:02:20发布11次查看
产品介绍
这些扩展装置用于将thorlabs的相机式或扫描狭缝式光束分析仪扩展成全自动的电动m²测量系统。m2ms内有用于400到2700 nm的反射镜,而m2ms-al内有用于250到600 nm的反射镜。入射端口处的磁性安装座便于根据激光光源更换镀增透膜的透镜(请见下文字框),从而优化系统。
光束质量分析仪和聚焦透镜的位置保持固定。对于m2测量,光程可以通过安装在上一代ddsm100/m位移台上的可移动回射器改变,位移台的行程范围是200 mm,速度为max.500 mm/s。
m²测量系统的侧面有一个集成的usb2.0集线器,包含的端口用于连接光束质量分析仪和tsp01 usb温度和湿度控制器等器件,另外还有一个连接电脑的迷你usb输出接口。系统内的位移台也是通过这个集线器和电脑通信。系统通过thorlabs beam软件控制,此软件也能控制我们的光束质量分析仪(请见软件标签),能够确保准确地测量多种光束相关的参数。
m2测量系统的外壳安装在底座四角由0.5 mm深的退刀槽形成的支脚上。它还附带一组rdf1橡胶减振支脚。通过五个m6螺纹孔靠近四角安装四个减振支脚,或使用三个减振支脚的配置。
性能特点
l组合bp209扫描狭缝式光束质量分析仪搭建完整的m²测量系统
l反射镜用于250 - 600 nm或400 - 2700 nm
l安装转接件,用于bc106n相机式和bp209扫描狭缝式光束质量分析仪
l附带一个对准激光器
选型指南
产品结构与细节
可选功能与配件
技术参数
该用户其它信息

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