日本yamabun用于质量控制和检验的测厚仪资料
离线式测厚仪是台式紧凑型测厚仪。将薄膜或片材切成条状并测量。由于测量是在自动运输的同时进行的，因此任何人都可以轻松快速地进行测量，并且不受测量者技能的影响是一大特点。常用于质量控制部门和研发应用。此外，由于测量的图形可以以环形显示，因此经常用于充气膜的制造现场。
型号：tof-4r05
测量方法
线规/夹取法
测量对象
薄膜、片材
测量厚度
0.03 至 3 毫米
型号：tof-5r01
测量方法
线性规
测量对象
这个电影
测量厚度
0.02-0.2毫米
型号：tof-6r001
测量方法
线性规
测量对象
薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等）
测量厚度
5-100微米
型号：tof-c2 * tof-c的后继型号
测量方法
非接触式
电容式
测量对象
薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜
测量厚度
~ 500 微米
型号：tof-s
测量方法
非接触式
光谱干涉仪
测量对象
电子、光学用透明平滑膜、多层膜
测量厚度
1 至 50 μm（用于薄材料）10
至 150 μm（用于厚材料）
型号：tof-m
测量方法
线性规
测量对象
钢板、铝板等金属板
测量厚度
0.1-0.5毫米
关键词：测厚仪