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低频介电常数测定仪1kHz下测定聚合物薄膜等

2024/4/9 8:36:35发布12次查看
20hz-1mhz范围测量参数:
测量功能
测试频率
20hz-1mhz,10mhz分辨率
测试参数
|z|, |y|, c, l, x, b, r, g, d, q, θ,dcr
基本测量准确度
0.05%
等效电路
串联, 并联
数学功能
值偏差, 百分比偏差
量程方式
自动, 保持, 手动选择
触发方式
内部, 手动, 外部, 总线
测量速度(≥1khz)
快速: 80次/秒, 中速: 30次/秒, 慢速: 3次/秒
平均次数
1—255
延时时间
0—60s, 以1ms步进
校准功能
开路/ 短路/ 负载
测试端配置
五端
列表扫描
10点列表扫描功能
显示方式
直读,δ,δ%,v/i(被测电压/电流监视)
显示器
800×480 rgb7英寸16: 9 tft lcd显示器
测试信号
输出阻抗
30 ω, 100 ω, 50ω, 10 /cc可选择
测试信号电平
正常: 5mv-2v, 1mv步进
恒电平:10mv-1v, 1mv步进
偏置源
内部
0v, 1.5v, 2v
选配
uc6802a:±10v(±100ma)直流偏置电流
uc6802b:0-1a直流偏置电流
显示范围
|z|, r, x
0.01mω —99.9999 mω
dcr
0.01 mω —99.9999 mω
|y|, g, b
0.00001µs —99.9999 s
c
0.00001 pf —9.9999 f
l
0.00001 µh —9999.99 h
d
0.00001 —9.9999
q
0.00001 —9999.9
θ(deg)
-179.999º —179.999 º
θ(rad)
-3.14159 —3.14159
其他
比较器功能
十档:(九档合格,一档不合格),另有一个附属档aux
存储器
10组内部仪器设定供存储/调用
接口
标配rs232c、handler、usb host,耳机接口
三s916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:
固体:材料测量直径 φ50mm/φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm (二选一)
液体:测量极片直径 φ38mm; 液体杯内径φ48mm 、深7mm(选配)
四 as2838/78低频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:
1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,oca光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,fr4 pcb板材, pa尼龙/涤纶,pe聚乙烯,ptfe聚四氟乙烯,ps聚苯乙烯,pc聚碳酸旨,pvc,pmma等
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