gb 2423.1—89代替gb 2423.1—81低温试验箱标准.本标准等效采用标准iec68—2—1《基本环境试验规程 试验a：寒冷》（1974年版）及其*次补充文件iec 68—2—1a（1978）。本标准规定了电工电子产品基本环境试验规程试验a：低温试验方法。适用于非散热和散热的电工电子产品（包括元件、设备及其它产品）有低温试验。
低温试验箱gb 2423.1-89标准用来考核或确定电工、电子产品在低温环境条件下贮存（或）使用的适应性。而不能用来评价试验样品在温度变化期间的耐抗性和工作能力，这时应当采用gb 2423.22《电工电子产品基本环境试验规程 试验n：温度变化试验方法》。本试验方法通常用在条件试验期间能达到温试稳定的试验样品。试验时，是将具有室温的试验样品投入试验。当试验样品实际上是和某种特定的安装架一起使用时，则试验时就应使用这些安装架。试验持续时间是从试验样品达温度稳定时开始计算；特殊情况下，如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定，则试验持续时间从试验箱达到规定温度试验时开始计算。
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