同步检验表面形状、背面形状和平整度！
nanometro®tt系列是用于纵向旋转、边缘夹持式晶圆的平整度测量装置。边缘排除区小1mm，可进行盒至盒的高精度自动测量。评价项目依据semi标准。
日本黑田精工kuroda硅片平整度测量系统
同步检验表面形状、背面形状和平整度！
nanometro®tt系列是用于纵向旋转、边缘夹持式晶圆的平整度测量装置。边缘排除区小1mm，可进行盒至盒的高精度自动测量。评价项目依据semi标准。
特点平整度测量例
边缘排除区1mm
边缘排除区3mm
放射状测量数据
边缘滚降分析
边缘鸟瞰图、截面图
＜edge roll-off分析＞
根据表面和背面同步检测得到的放射状测量结果，提供符合客户需求的分析软件。
性能、规格项目nanometro®300ttnanometro®200tt
量程φ300mm φ200mm
显示分辨率1nm
测头非接触激光位移计
测量方式纵向旋转方式
日本黑田精工kuroda硅片平整度测量系统
产品按照标准和生产，产品可满足用于石化、电厂等行业，同时根据不同的产品也适用于其他行业，改进和扩大提高了自己的产品供给，公司生产的测量系统，受到了本国和国内外客户以及市场的青睐，*设计，寿命超长，性能稳定，密封性强，精密铸造，外观精美。性质稳质，包装优良。
伊里德代理工kuroda硅片平整度测量系统等产品，价格合理，使用范围广，部分常规型号有现货。如需采购可咨询。我将竭诚为您服务。请您询问时请备注贵公司营业执照抬头、连系方式；您需要的品牌型号数量发给我们。我们将按顺序时间给您回复报价，欢迎惠顾！