pct老化箱试验LED光源衰退原因

2024/3/21 21:34:59发布30次查看

pct老化箱是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。
led具有低电压、低能耗、长寿命、高可靠性、易维护等优点,已成为照明行业的主流。虽然led光源已逐步取代其他光源成为照明行业的主流,但其寿命及其可靠性仍有待提高,这已成为现阶段的研究重点。
led光源可靠性通常采取pct老化箱进行一个温度加速老化试验,在led样品试验中随着老化时间的增长,会产生光衰退,而产生光衰退的原因有荧光粉、硅胶以及芯片的衰减。

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