hast高压加速老化试验机箱的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的thb试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。用较少的时间就可完成对产品的湿度的测试。在100℃以上的温度下，通过提高和增加压力，可以模拟正常湿度测试，同时保持相同的故障机制。几小时或几天就能通过产品的老化测试，大大节省了产品开发周期。
hast高压加速老化试验机箱,hast高压加速寿命试验机参数：
湿度波动度≤±2.5%r.h.
湿度均匀度≤±3.0%r.h.
压力范围0.2～2㎏/㎝2(0.05～0.196mpa)
升温时间常温→+143℃约45min.
升压时间常压→+2㎏/㎝2约40min.
温度范围105℃→+143℃.
温度波动度≤±0.5℃.
温度均匀度≤±2.0℃.
湿度范围75%～100%r.h.
hast高压加速老化试验机箱/hast高压加速寿命试验机标准：iec60068-2-66;jesd22-a102-c;jesd22-a110-b;jesd22-a118;gb/t2423.40-1997