一、电阻失效机理与故障分析
电阻是电子电路中最基本的元件之一，其失效主要包括焦耳热导致的老化和内部金属的蒸发。焦耳热导致的老化主要是因为电阻所消耗的功率造成了温度升高，导致导体材料的老化，而内部金属的蒸发主要是因为电阻发热引起本身材料的挥发。故障分析主要包括测量失效电阻的阻值和电阻表面的外观，进一步确定其失效机理。
二、电容失效机理与故障分析
电容在电子电路中也是非常常用的元件，其失效主要包括电容极板的腐蚀、电解质的干化和极板之间绝缘材料的老化。故障分析可通过检测电容的电容值和泄漏电流，以及观察电容外观等方式来确定电容失效机理。
三、晶体管失效机理与故障分析
晶体管是现代电子设备中不可或缺的元件，其失效主要包括接触材料的热疲劳、接触材料的金属迁移和管芯的电压击穿。故障分析可以通过测量晶体管的电流、电压、电容和反向漏电流等参数，以及观察晶体管外观来确定其失效机理。
四、二极管失效机理与故障分析
二极管同样也是电子电路中常用的元件，其失效主要包括pn结的破坏、金属与半导体之间界面的老化和封装材料的老化。故障分析可以通过测量二极管的电流、电压、反向漏电流和导通电压等参数，以及观察二极管外观来确定其失效机理。
总之，了解常用电子元器件的失效机理和故障分析可以帮助我们提高电子设备的可靠性，延长使用寿命。同时，对于电子工程师来说，也能够更快速准确地定位故障、判断失效机理，更快地进行维修或更换元器件。