pct老化箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,ic,lcd,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。 pct老化试验箱的结构：
（1）精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。
（2）圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中露滴水设计。
（3）自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，安全门把设计，内有大于常压时测试们会被反压保护。
（4）临界点limit方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示。
（5）圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。
pct老化试验箱特点：
（1）试验过程自动运转至完成结束，使用简便。
（2）具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。
（3）计时器：led数字型计时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验*。
（4）运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到*蒸气品质。
（5）一体成型矽胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
（6）led数字型温度控制器可作试验温度之设定、控制及显示。
关键词：pct老化试验箱，水冷氙灯耐候试验箱，进口冷热冲击试验箱，三综合试验箱