bruker的dektak®探针式轮廓仪是技术进步的高峰。它们提供可重复、可靠和准确的测量：从传统的台阶高度测量和二维粗糙度的表面表征到高级三维形貌和薄膜应力分析。dektak 探针式轮廓仪已被广泛接受为薄膜厚度、应力、表面粗糙度和形貌测量的金标准，应用到从学术研究到半导体过程控制等不同领域。
1. 更快速的收集和分析相比于普通台阶仪，bruker dektak台阶仪可以直接驱动扫描样品台，测量时间也加快 40%，同时保持优质迅速的性能。2.低噪低降单拱门结构设计使 dektakxt 更坚固，从而将环境噪音的影响降至低。dektakxt 升级的智能电子设备可降低温度变化的影响，并采用现代处理器，限度地减少噪声水平，使其成为能够测量 <10nm 台阶高度的更强大的系统。
3.全面的操作与分析dektakxt搭配的vision64 是bruker的 64 位并行处理操作和分析软件，通过提供最直观、最简化的用户可视化界面，加入到 dektakxt 的创新设计。而且能够更快地加载 3d 形貌文件，并更快地应用筛选器和多区域数据库分析。无论您是使用分析脚本对单个扫描结果进行分析，还是应用自定义筛选器设置和计算，dektakxt 的数据分析器都能显示当前分析结果，同时显示其他可能的分析工具。
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