四探针探头 探头 型号：gsz-hp-501
四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ito透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆特性及规格：
1
特制之手握式探笔
2
球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3
探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4
探头使用寿命长
5
探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500mω
型号
（model）
曲率半径
（radius）
压力
（loads）
探针间距
（spacing）
探针排列
（arrangement）
gsz-hp-501
0.5mm
100g
3.8mm
直线