真空衰减法微泄漏无损密封测试仪依据《astm f2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。 专业适用于各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶（玻璃/塑料）、灌装压盖瓶、其他硬质包装容器、电器元件等试样的 无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定 性。亦可满足用户的非标准（软件或测试夹具）定制。
真空衰减法作为无损定量检漏技术的代表，相比传统检漏方法如染色法、微生物侵入法优势明显；相比其他的无损检漏技术如激光法，适用范围广，符合标准多。 mlt-v100微泄露无损密封仪具有真空衰减法的最高检漏精度≤1um，不仅适用于高、低真空度及常压的包装，也适用于固体、液体填充的包装，非常适合于制药行业的客户使用。
与行业里长用的的检测方法对比：
染色法：ø 破坏性测试 ø 受多方面因素影响 ø 可能会出现假阳性结果
微生物侵入法：ø 破坏性测试 ø 泄漏通道为曲折路径时漏检率高 ø 测试时间长，测试过程繁琐
真空衰减法:ø 无损测试ø 定量检测ø 测试时间短ø 可以检测高真空度、低真空度和常压的包装
ø 可以检测液体部分的完整性 ø 可以直接检测出泄漏率和漏孔大小
ø 同时符合美国astm标准和fda要求ø 封口前泄漏封口后完好的包装可以检出