产品概要这是一种可以使用正电子评估亚纳米尺寸（原子级）的微小缺陷和空隙的方法。
正电子寿命测量是一种能够使用正电子评估亚纳米尺寸（原子级）微缺陷和空隙的技术。
本装置应用实例喷丸质量检查
金属疲劳损伤评估
适用于钢、铝、钛等各种金属
非晶态材料，例如玻璃和聚合物
测量深度距表面约50μm（钢材）
*与产业技术综合研究所共同开发正电子寿命法原理
图1是正电子进入金属材料并湮灭的示意图。正电子寿命测定法是准确测定正电子产生时放出的γ射线与电子对湮灭时产生的γ射线的时间差（正电子寿命）的技术。材料中空位越多，位错密度越高，正电子寿命越长。
■所谓阳电子
带正电荷的电子“反粒子”。与电子相遇就会对消失γ放出线。
■所谓正电子寿命
是指正电子与电子相遇并消失之前的时间（寿命）。正电子寿命取决于电子密度，空隙尺寸越大，电子密度越低，所以正电子寿命会更长。
常用规格正电子源 na-22 (~1mbq)
计数率 约 100 厘泊
测量范围 40 ns（对于金属、半导体和聚合物）
附属设备 ・hdo4024（teledyne lecroy dso）、（hdo4024 尺寸 w400 × l132 × h292 [mm]）・特殊程序・笔记本电脑等。