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光学薄膜新款研发用测厚仪介绍

2024/2/29 15:03:18发布23次查看
光学薄膜新款研发用测厚仪介绍
模型tof-6r001
测量方法接触式/线性量规
测量对象薄膜高精度塑料薄膜(聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等)
测量原理线性规
产品特点离线轻松快速地测量厚度
测量数据实时显示在屏幕上
测量数据可以自动保存在个人电脑上
由于是通过自动运输测量,所以测量数据没有个体差异。
也可用于调整雷达图上的充气膜。
实现接触式测量,小显示值为 0.01 μm
产品规格测量厚度5-100微米
测量长度10 至 10000 毫米
测量间距0.1毫米~
小显示值0.01微米
测量压力0.19 牛 (0.12 牛)
电源电压ac100 伏 50/60 赫兹
工作温度限制10-40℃
湿度35-80%(无冷凝)
能量消耗50 va(不包括 pc)
选项・卷纸打印机输出功能・连续测量功能・每个特殊的触控笔・图像传输功能
关键词:测厚仪
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