gl16光纤端面几何形状测量仪器使用非常简单，能够测量单芯和多芯接头的端面几何形状，并对其成像。它采用非接触式白光扫描干涉技术(swli)，能够提供高准确度、高重复性和高可靠性的光纤接头测试，尤其适合根据iec或telcordia标准进行的合格/不合格测试。系统既可以通过触摸屏进行本地控制，又可以通过基于浏览器的应用程序实施远程操作，易于集成到生产车间。
所有系统组件完全集成在封闭的外壳中。宽带宽570 nm led光源配合迈克尔逊干涉物镜使用，测量间隔高度变化高达35 μm的相移。压电位移台相对于接头移动干涉物镜，并使用高分辨率相机收集所产生的干涉图案。然后生成接头表面的3d高度图，并利用2.2 µm的横向分辨率和1.1 nm的高度分辨率计算光纤几何形状参数。白光干涉法还能够表征凹陷或突出的光纤，而这一点在使用单色干涉仪时可能会被忽略。
附带的gl16m4 mt型安装夹具有助于实现一次8秒测量12芯每行的插芯中max.72根光纤。换出附带的夹具，gl16还可测量其他光纤类型和接头类型。请根据待测接头类型和光纤数量在下方选择合适的安装组件。
性能特点
3d干涉仪，用于测量端面几何形状非接触式闭环压电白光扫描干涉技术(swli)完全符合iec和telcordia等行业规范兼容所有主要的接头类型(请看下表)nist可追踪标准，用于放大倍率和偏转位移台的校准集成的触摸屏上提供完整的扫描信息，测量时间≤8 s(典型值)基于浏览器的应用程序，支持远程访问操作导出为.csv格式的数据，sql数据库或扫描报告
可选功能与配件
技术参数
产品尺寸
产品参数
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