预热及测试均可分为多段，每段按不同的测试条件进行。
每个通道均可在常规测试及脉冲测试间进行切换。
带有寿命曲线拟合功能。
硅光电式oled器件寿命测试系统 产品详情
本系统有多组独立的测量通道。每组测量通道有独立的电压输出，电流输出，电压测量，电流测量，相对亮度测量。每组测量通道可以独立设置测量参数，包括三段测量时长，测量时间间隔，停止测量判定条件等。每组通道均可以独立开始测量和停止测量。数据报表具备实时保存功能，不用担心数据丢失。治具采用探针接触方式，兼容顶发射和底发射产品。通道的数量可选配，常用型号有32通道、64通道、96通道、128通道。
系统组成
1、相对亮度测量：使用硅光电探测器和高精度测量系统
2、电压或电流输出
3、电压电流测量
4、机柜
5、oled teg治具
6、工业计算机
7、不间断电源ups
8、oled寿命测量软件
加热工位参数
温度范围： 室温 - 100 ℃ （室温 -120℃可选）
温度精度： ±1℃，温度波动±0.2℃
根据用户不同温湿度环境测试需求，可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等，对器件的寿命测试环境进行控制。
其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。
标准恒温恒湿箱参数
温度范围： -40～100 ℃ （标准型，其它温度范围可订制）
温度均匀度：±2.0℃
温度波动度： ± 0.5℃
温度精度：1 ℃
升温速度： 1.0～3.0℃/min
降温速率： 0.7～1.2℃/min
湿度范围：30%～98%rh （标准型，其它湿度范围可订制）
湿度波动度：±1.5％r.h
湿度偏差：±2.5％r.h