场发射透射电子显微镜 hf-3300 产品详情
场发射透射电子显微镜 hf-3300
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日立的冷场发射电子源和300 kv加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术，空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效，高精度样品分析的新途径。
特点
分辨率0.1 nm(晶体点阵)
0.19 nm(点对点)
0.13 nm(信息极限)
放大倍数200倍 至 1,500,000倍
加速电压300 kv, 200 kv*, 100 kv*
*：选购附件
关联产品分类
聚焦离子束tem/sem样品的前处理装置