紫外线线强度计适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
uv-a紫外辐照计 产品详情
一、产品简介
紫外线线强度计适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
uv-a紫外辐照计 紫外线线强度计
二、技术参数
* 波长范围及峰值波长：
（1）uv－365探头：（光谱响应曲线见图）
λ：(320～400)nm；λp＝365nm
（2）uv－420探头：（光谱响应曲线见图）
λ：(375～475)nm；λp＝420nm
* 辐照度测量范围：
(0.1～199.9×103)μw/cm2
* 紫外带外区杂光：
uv365：小于0.02％
uv420：小于0.02％
* 准确度：±10％
* 角度响应特性：
符合国家二级光照度计标准
* 响应时间：1秒
* 使用环境：温度(0～40)℃；湿度＜85％rh
* 尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 电源：6f22型9v积层电池一只