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ATHB-B015 功率器件THB试验设备

2023/2/19 3:18:07发布87次查看
thb测试设备评估功率半导体器件在高温&高湿,低温&低湿,低温&高湿条件下对湿气的抵抗能力,加速其失效进程,同时可附带评价功率半导体器件外观的寝蚀。
功率器件thb试验设备 产品详情
设备名称:thb试验设备
1.2 设备型号:athb-b0015
1.3内部尺寸(w×h×d mm): 500×600×750
1.4 外部尺寸(w×h×d mm): 1135×1620×890
1.5内箱容积:225 l
1.6 温度范围:0℃~+150℃
湿度范围:10%~98%r.h
1.7 升温速率:0℃~+150℃:≥3℃/min(全程平均)
降温速率:+150℃~0℃:≥1℃/min(全程平均)
1.8 温度波动度:≤±0.5℃
湿度波动度:≤±3%rh
1.9 温度均匀度:≤2.0℃
湿度均匀度:≥75%rh 时 均匀度≤±3%rh
≤75%rh 时 均匀度≤±5%rh
1.10 温度偏差: ≤±2.0℃
湿度偏差: ≤±3%
1.11满足标准:gb/t 5170.2-2008 温度试验设备 gb/t 5170.5-2008 湿热试验设备
gb/t 10586-2006《湿热试验箱技术条件》
gb/t 10589-2008《低温湿热试验箱技术条件》
gb/t 10592-2008《高低温试验箱技术条件》
gb/t 2423.1-2008《电工电子产品环境试验方法试验 a:低温试验方法》
gb/t 2423.2-2008《电工电子产品环境试验方法试验 b:高温试验方法》
gb/t 2423.3-2006《电工电子产品环境试验方法恒定湿热试验方法》
gb/t 2423.4-2008《电工电子产品环境试验方法交变湿热试验方法》
jjf 1101-2003 《境试验设备温度、湿度校准规范》
备注:1.以上性能指标指在无负荷、无试料,周围环境温度为 25±2℃条件下测量的数据
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