隐形眼镜半成品测试仪（干涉仪） 产品详情
隐形眼镜半成品测试仪可测量和显示：
直接测量：曲率半径，散光，非球度，慧差，及其对应的zernike数组显示被测表面的：地形图，断面图，宽度，均方根等波前数据非球面高度与设计数据作比较显示模具或*的问题
隐形眼镜半成品测试仪优势：
硬件全新升级（相对于brass-2000）强大的地形图数据分析功能可选配超高精度编码器将精度提高至0.03um
技术参数：
测量时间：球面8秒；复曲面20-25秒；非球面18-90秒
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