supra™ 55热场发 产品详情
supra™ 55热场发射扫描电子显微镜
仪器简介：
supratm 55采用了的gemini镜筒设计和环形in-lens se 探测器，具有束流稳定、分辨率高的特点，配有牛津x-射线电制冷能谱仪，能同时进行导电样品和非导电样品的高分辨成像及元素成分分析。
仪器主要特点：
1．肖特基(schottky)场发射电子源，具有较大的发射电流和极高的稳定性。
2．采用技术 gemini 镜筒，克服传统单极物镜光阑设计缺点，消除磁性影响，同时采用无交叉光路设计，提高了仪器的主要性能。
3．采用 beam booster（电子束加速器），以得到的低加速电压性能。
4．环形高效 in-lens se 探测器，具有良好的分辨率和对称性。
5．电磁/静电式复合物镜，可对磁性物质进行高分辨成像。
主要技术指标：
分辨率：1.0nm @ 15kv
1.7nm @ 1kv
4.0nm @ 0.1kv
放大倍数：12 ~ 900,000x
加速电压：0.1 ~ 30kv
可分析元素范围：4be～94pu
主要性能：
二次电子形貌（sei）、背反射成分像/形貌像（bei）、吸收电子图象、能谱成份图象分析
主要功能：
1、金属、非金属及复合材料、生物样品表面形貌、组织结构的观察分析及图象处理
2、纳米材料：纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量分析
3、微区成分的定性、定量分析，并对重点区域做元素分布图
4、颗粒样品粒径、面积、周长、圆度的测量，提供粒度分布图，并可对孔径样品做孔径分布直方图、饼图
5、可对固体材料的表面涂层、镀层进行结合情况观察和厚度测量
主要用途：
广泛用于冶金、生物、建筑、机械等行业的材料形貌观察及元素成分分析，如金属、半导体、陶瓷、高分子材料、有机聚合物等。本电镜配备有牛津x射线能谱分析仪。