电阻的阻值会受到各种“应力”影响而发生改变，离开稳定性的高度是没有意义的。举个例子，电阻出厂时的度是±0.01%，为这个度我们支付了昂贵的费用，但在几个月的存储或者几百小时的负载后阻值可能变化超过±300ppm甚至更多。另种常见的情况是电阻在来料检验的时候在标称的度范围以内，焊接到pcb后就超出了标称的度范围。还有比如潮湿，静电等都会导致电阻的阻值产生不可逆的变化。因此要强调的是，稳定性应该放在位来考虑，而不是片面的追求高度。
密线绕电阻
作为早的密电阻技术，高密的线绕电阻温飘可以做到±1ppm/°c，且度可以做到±0.001%，这是薄膜和厚膜电阻没有办法做到的。的密线绕电阻其阻值可以做到接近50m，适合超密高阻值的应用。由于其他电阻技术的发展，密线绕电阻趋于被淘汰的边缘，因为其价格昂贵，有电感等缺点。
对1ω（欧姆）以上阻值的电阻，与标识阻值相比±0.5%以内阻值误差的电阻可称为密电阻，更高密的可以做到0.01%度，也就是电子工程师所说的万分之度，此类电阻般为薄膜电阻，使用此材质的电阻般才能满足生产工艺要求。这类阻值1ω以上电阻的普通系列密度在±5%以上，电子产品上常见的就是5%度的电阻，不属于密电阻范围。1ω以下阻值的电阻，般能达到±1%密度之内，就算做密电阻范畴了，因为阻值基数很小，就算是1%的误差，实际的阻值误差已经很小了。更高密的可以做到±0.5%以内，但工艺要求，技术要求较高。
密电阻的主要参数
1、度：度是来料检验的重要指标，是否所有的密电阻生产厂家在出厂前都做了100%的度测试？答案是否定的。虽然密电阻有很多不同的工艺和材料的区分，但几乎所有的密电阻都需要进行调阻才能做到“高密”。比如密薄膜电阻在表面进行激光调阻，而密箔电阻通过切断调阻带来调阻等。调阻的过程事实上是测量的过程，但调阻后的产品并非成品，还要经过封装等些后续工艺，这过程可能会对电阻的阻值造成影响。另外测量仪器的准确性和正确的测量方法也相当重要，尤其对于超过万分之度的电阻，以及毫欧电阻，高阻值的密电阻。
2、温漂：在电阻的规格书里，我们往往只看到个温漂指标，比如±5ppm/°c。实际的情况是很可能这个温漂指标并没有覆盖产品需求的工作温度范围，就是说在不同的温度区间内，同电阻的温漂是有区别的。应该说大多数的密电阻厂家的规格书里并没有明确定义不同温度区间的温漂指标，有些厂家只在整个工作温度范围内挑选其中的段曲线作为规格书中的温漂指标，这是个普遍的现象。
还有个事实是温漂的指标在出厂前很难被100%测量，测量需要昂贵的费用，另外要进行确的测量可能对产品本身是破坏性的，比如贴片电阻的温漂测量般都建议焊接在pcb板上进行，另外温漂的测量过程带来的应力会使阻值产生变化。温漂的控制主要基于电阻材料本身以及制造工艺。比如密箔电阻通过使用特殊的低温漂合金以及应力补偿的方式达到接近零温漂的性能。
3、负载寿命：负载寿命和三方面的因素相关，即功率、温度和时间。降额使用有助于减缓阻值的变化。
电阻阻值变化的活跃期往往在使用的前几百个小时，随着使用时间越长越是趋于稳定。这是由于随着时间的推移，电阻元素本身趋于稳定，或者电阻元素和基体之间的应力逐渐释放。负载寿命的指标只能通过抽样测试的形式进行监测，因为这种测试至少需要1千小时，航天的应用则可能需要高达1万小时的测试，且这种测试是破坏性的实验。对密电阻在使用前进行功率训练可以有效的加速电阻老化，使电阻趋于稳定，但会使电阻的阻值产生变化。
4、货架寿命：货架寿命用来考察电阻在标准或者存储条件下的阻值稳定性。和负载寿命样，电阻存放的时间越长，其阻值的变化也会趋于稳定。这就是为什么有些密仪器制造厂家采购密电阻并不立即使用，而是存储几个月甚至几年再去使用的原因。当然存储会导致电阻阻值的改变，但这种变化的趋势是越来越小。所以对于老批号的电阻，只要度在标称值以内，且焊脚没有氧化，其稳定性要优于新批号的电阻。电阻的存储尤其要注意湿度控制，湿度对于任何电阻的阻值都会产生很大的影响。例如各种膜式电阻，旦湿气进入就会在电阻层形成电解液，严重影响电阻的阻值。除了湿气还有空气中的各种性物质，如硫，盐雾等。作为计量应用的标准电阻会被注油后密封，从而隔外部环境应力对于阻值的影响，减少该电阻的年变化率。
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