品牌德国SENTRECH	型号FTPadv
是否跨境货源是	主要销售地区其他
有可授权的自有品牌是

反射膜厚仪-ftpadv用于测量薄膜厚度和光学常数。 
仪器说明:
l 包含厂家预设的和用户自定义的广泛的应用数据库，可直接使用
l 广泛的材料数据库，来源于sentech光谱椭偏仪分析数据
l 可测量半导体上的电介质膜，半导体上的半导体薄膜，硅上的 聚合物膜，透明基底上的薄膜和金属基底上的薄膜
l automodel选项，可自动识别不同的常规应用
主要特性：
l 可测量透明膜和弱吸收膜的厚度和折射率
l 菜单驱动软件，操作简易
l 全光谱测量时间小于 300 ms
l 32位软件，基于winnt, win2000, winxp等操作系统
l 可进行连续测量
l 高精度和高重复性测量，膜厚范围从50nm至20000nm
l 可预先定义应用程序，操作简易
l 多层膜中的指定膜层能够被测量 
l 统计分析，测量数据和对样品的操作都在protocol中显示，数据 能够被保存和打印
l mapping选项，包括计算机控制扫描样品台和分析软件 

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侯先生
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