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3D定位镀层测厚仪器

2019/12/9 16:49:07发布85次查看
  e3是一款通用型能量色散型x射线荧光光谱仪(edxrf),专门用于;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国edxrf前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。
探测器
● 类型:x123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)
● be窗厚度:1mil
● 晶体面积:25mm2
● 最佳分辨率:145ev
●信号处理系统:dp5
x射线管
●电压:0-50v
●最大电流;2ma
●最大功率:50w
●靶材:mo
●be窗厚度:0.2mm
●使用寿命:大于2w小时
高压电源
●输出电压:0-50kv
●灯丝电流0-2ma
●最大功率:50w
●纹波系数:0.1%(p-p值)
●8小时稳定性:0.05%
摄像头
●焦距:微焦距
●驱动:免驱动
●像素:500万像素
准直器、滤光片
●系统:快拆卸准直器、滤光片系统
●材质:多种材质准直器
●光斑:光斑大小φ0.2mm、φ1.0mm、φ2.0mm、φ4.0mm可选
十字激光头
●光斑形状:十字线
●输出波长:红光650nm
●光学透镜:玻璃透镜
●尺寸:φ10×30mm
●发散角度:0.1-2mrad
●工作电压:dc 5v
●输出功率:<5mw
●工作温度:-10~50℃
其它配件
●开关电源:进口高性能开关电源
●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇

深圳市禾苗分析仪器有限公司

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