欧盟议会和理事会在2000年9月18日颁布了“2000/53/ec关于报废汽车的技术指令”，规定在2003年7月以后，原则上要求汽车材料不能含有铅、汞、镉和六价铬四种有害物。这是全球对汽车材料含重金属问题进行规范。此后，欧盟相继颁布了“2002/525/ec”和“2005/673/ec”技术指令，对原“2000/53/ec”技术指令附录二中有关重金属禁用的豁免条款进行了修订，终形成了欧盟对汽车产品重金属禁用的技术法规体系。重金属作为合金元素、杂质或者添加剂等广泛存在于各种材料中，在报废汽车回收时容易造成二次污染，对环境保护不利。权威机构研究表明：铅是一种对人体神经系统有害作用的物质；镉会损伤人体肾脏器官；铬、镉、汞、铅及其化合物是可能的致物质。如何在不损害车辆的情况下对以上有害元素进行精准的测试，是汽车行业必须思考的一个问题。江苏天瑞仪器股份有限公司总结了多年的x荧光光谱仪研发经验，研发出多款专门针对有害元素测试标准的仪器。这些仪器各项性能指标均达到或优于国家标准，目前已经获得市场的认可，在有害元素测试市场中占有很大的比重。
x射线荧光光谱（xrf）技术是一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。
x射线形成部分电磁波谱。其处于紫外线辐射的高能侧，使用千电子伏特表示能量高低，纳米表示波长。
xrf一般可用于分析从钠到铀的所有元素，其可识别浓度范围zui低至百万分级，高至百分比，可用于分析固体、液体和粉状物。x射线荧光光谱技术的原理
所有xrf仪器都拥有两个主要成分，一个是x射线源，一般采用x射线管，另一个则是探头。x射线源会发出初级x射线到样品表面，有时会通过滤光器对x射线束进行调整。在光束击打样品原子时，会产生次级x射线，这些次级x射线会被探头收集并处理。比较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成，电子按照能量层级或电子壳层排列，不同的能量层级可包含不同数量的电子。
在高能初级x射线与原子发生碰撞时，会打乱原子的平衡状态。
此时，电子会从较低的能量层级射出，形成电子空位，使原子失去稳定。
为了恢复稳定性，较高能量层级的电子就会填补空位。而电子在两个能量层级间移动时释放的多余能量就会以次级x射线的形式发射出来。发射出的x射线的能量会表现出元素的特征。
这也就意味着xrf能够提供有关被测样品的定性信息。不仅如此，xrf同时也是一项定量技术。
样品原子发射出的x射线经探头收集，并由仪器处理后可形成一个光谱，显示x射线的强度峰值及能量对照。
如我们所知，通过峰值能量可以判定元素的种类。其峰值区域或强度可指示出元素在样品中的含量。
随后，分析仪就可以使用这一信息计算样品的元素构成。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司、四川天瑞环境科技有限公司六家全资子公司和江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全资源化有限公司三家控股子公司。 天瑞仪器将以“行业技术者”的姿态，不断探究世界分析领域的。为客户提供更加先进的产品和更加满意的服务，同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供更为完善的行业整体解决方案，从而推动中国经济快速全球化。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。公司被授予 “国家火炬计划重点高新技术企业”，“江苏省高新技术企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内重点软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。产品具有国际的技术水平，x荧光光谱仪系列产品被认定为“国家重点新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种齐全，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供专业解决方案。
xfr 应用
xrf适用于各类样品的主、次、痕量多元素同时分析，检出限约在ppm（百万分之一）级；同时也可用于金属镀层的厚度分析，检出限在0.01um级。由于其制作简单、测试快速，现以广泛用于电镀、矿产、材料、水泥、钢铁、石油、考古、珠宝、环境等行业，尤其是近年来因为欧盟rohs、中国rohs的推出而大量应用于电子、电器、塑胶等制作行业的品质监控。
根据功能，将xrf的应用主要分为：
1）rohs分析：电子；电渠、五金、塑胶等制造业，检测机构、海关等
2）镀层测厚分析：电镀、电子电器、珠宝首饰等行业
3)贵金属分析：珠宝首饰
4)元素成分分析（特定元素分析、全元素分析）：钢铁、铜、不锈钢有色金属。
性能优势
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和x光管：性能稳定可靠，实现更高的测试效率
技术参数
元素分析范围：磷（p）～铀（u）
检出限：1ppm
分析含量：ppm～99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220v±5v, 建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：144±5ev
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg
是什么原因导致xrf分析仪在铅的测量浓度偏高和检测限（lod）的增加？
元素干扰可能会导致铅的测量结果偏高，这是由于激发能出现了重叠问题。这种重叠有可能由以下三种情况中的一种或多种引起：
发射谱线直接重合：例如，砷（as）的 ka 发射能为10.54 kev，而 pb的la 发射能几乎一样，是10.55 kev。任何和 pb 发射能接近的元素都有可能造成铅的测试值偏高。具体请参见第二页周期表中列出的特征发射值。
叠加峰与发射谱线相重合：当检测器将两个或者更多的光子作为一个光子进行计数时，就会出现叠加峰。叠加峰对基体中具有高强度 x发射谱线的主要元素的影响特别明显。叠加峰可能会和其他元素的发射谱线重合，比如铁（fe）叠加峰的数值（12.8 kev)）就和铅的lß（12.61 kev）发射谱线出现了重合。
在特定条件下的发射谱线干扰：有些发射谱线的干扰只有在某种元素的浓度特别高时才会发生。主要元素的能量分布值过高，会小幅提高相邻元素的检出限。
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