产品详细: 镀层测厚x荧光光谱仪
金属镀层的厚度测量和电镀液镀层含量的测定。仪器介绍 镀层测厚x荧光光谱仪
thick800a是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号：thick 800a
元素分析范围从硫(s)到铀（u）。 
一次可同时分析最多24个元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，最薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220v±5v, 建议配置交流净化稳压电源。 
外观尺寸： 576(w)×495(d)×545(h) mm 
样品室尺寸：500(w)×350(d)×140(h) mm
重量：90kg

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深圳天瑞仪器有限公司